分布光度計的影響因素及校準方法

對分布光度計的校準，也有采用其他替代校準方法，如照度法和光通量法等對測量系統進行校準。但這些校準方法在不同程度上存在一些問題。且如果系統的校準狀態與實際的測量狀態不一致，即未經過反光鏡或未經過系統所使用的所有反光鏡(多面反光鏡系統)，也會對系統的校準帶來一定的誤差。

光強是基于遠場照度測量而得到的量值。因此在分布光度測量系統中，探測器可按照JJG 245—2005 《光照度計》檢定規程進行計量校準。即當測試系統的幾何結構、條件符合距離平方反比定律時，可以采用經計量的照度探測器和精確測定的距離來獲得。檢定時，通常將光強標準燈和探測器至于光學導軌上，探測器與標準燈的燈絲平面之間的距離應至少大于發光面或探測器的測試面的最大線度(燈絲平面、探測器測試面的對角線長度或直徑)的15倍以上。使用此方法檢定完成后的探測器雖完成了校準，但并不能直接用于分布光度計的測量。